Zahraniční hosté přejí úspěch 5. ročníku veletrhu CIIE
Šanghaj (Čína) 1. listopadu 2022 (PROTEXT/PRNewswire) – Ve dnech 5. až 10. listopadu 2022 se bude konat 5. ročník čínského mezinárodního veletrhu dovozu (China International Import Expo, CIIE). Bývalý francouzský premiér Jean-Pierre Raffarin a bývalý ředitel centra pro kulturní dědictví UNESCO a náměstek generálního ředitele pro kulturu Francesco Bandarin popřáli prostřednictvím videozáznamu této události velký úspěch a pochválili Čínu za to, že svou otevřeností na vysoké úrovni podporuje prosperitu světové ekonomiky.
Jean-Pierre Raffarin uvedl, že se veletrhu CIIE již v minulosti zúčastnil a že francouzské podniky mají jednoznačný zájem v Číně za účelem rozvoje působit. V současné době hraje tento veletrh důležitou roli v mezinárodním obchodu. Prokázal svůj mezinárodní vliv, který nelze ignorovat, a podniky na něm mohou prezentovat či dojednat celou řadu oboustranně výhodných projektů. Raffarin vyzval francouzské společnosti, aby se veletrhu CIIE zúčastnily a oba národy tak mohly profitovat ze vzájemné spolupráce.
Francesco Bandarin uvedl, že Čínu navštívil mnohokrát a veletrh CIIE považuje za významnou mezinárodní událost pro globální zajišťování veřejných zakázek, podporu investic, kulturní a personální výměnu a otevřenou spolupráci. Prostřednictvím těchto příležitostí bude mít svět šanci lépe poznat Čínu a její nádhernou kulturu. Čínský lid bude mít naopak možnost seznámit se s výrobky a rozmanitými kulturami z celého světa, dotknout se jich a získat s nimi přímé zkušenosti. Konstatoval, že pokud by k tomu měl vhodnou příležitost, přijel by na místo osobně, aby veletrh CIIE zažil na vlastní kůži.
Zdroj videa: http://news.medianet.com.au/xinhua-news-agency/ciie
Kontakt: Cui Yanová
Tel.: 0086-21-968888
Email: ciie2022@ciie.org
Webové stránky: http://www.ciie.org/zbh/en/
Facebook: https://www.facebook.com/ciieonline
Twitter: https://twitter.com/ciieonline
Logo – https://mma.prnewswire.com/media/1934632/CIIE_Logo_Logo.jpg
KONTAKT: Lizzy Liová, 263789367@qq.com
